熱電參數測試系統Namicro-3采用動態法(具有專利技術-專利號：ZL201811242049.2發明專利)和四線法分別測量樣品的Seebeck系數和電阻率。Namicro-3主要是用于測試塊體熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半導體及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。