霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)HET-3依據(jù)范德堡法則測量材料的電運輸性能參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或薄層材料均可測量，可應(yīng)用于所有半導(dǎo)體材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可測量）,廣泛應(yīng)用于國內(nèi)高校、研究所、半導(dǎo)體、金屬、高熱導(dǎo)有機新材料等行業(yè)。