

科教一體霍爾效應(yīng)測試儀
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廣泛應(yīng)用于大學物理、材料、電子信息等近代物理和應(yīng)用物理的創(chuàng)新實驗。
應(yīng)用于所有半導體材料:包括 Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可測量)。
產(chǎn)品特點
● 可對非標準樣品測試,裝夾方便,同時滿足教學和科研需求;
● 測試參數(shù)與科研設(shè)備一致,功能齊全,極具性價比;
● 采用高精密度恒流源和電壓表,測試準確度良好和穩(wěn)定性高;
● 創(chuàng)新實驗設(shè)備,可作為大學物理基礎(chǔ)實驗的對比與補充;
● 自帶軟件,針對國人使用優(yōu)化,測試過程更加方便;
產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域:
● 載流子類型鑒定:確定電流攜帶者是正電荷的空穴還是負電荷的電子,獲得半導體或?qū)w的電子結(jié)構(gòu)和能帶特性;
● 載流子濃度測量:霍爾系數(shù)與載流子濃度之間存在關(guān)系,因此通過測量霍爾系數(shù),可以估計材料中載流子的濃度;
● 遷移率評估:霍爾系數(shù)可以用來計算載流子的遷移率,對材料的電導率和電子遷移性等方面的深入研究;
部分客戶:
科研所 | 中國科學院深圳先進技術(shù)研究院 |
高校 | 浙江大學 |
高校 | 成都理工大學 |
高校 | 電子科技大學 |
科研所 | 中國計量院 |
高校 | 中山大學 |
高校 | 大連理工大學 |
高校 | 河北大學 |
高校 | 西南大學 |
企業(yè) | 杭州大和熱磁電子有限公司 |
高校 | 西華大學 |
高校 | 暨南大學 |
高校 | 武漢工程大學 |
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