新聞詳情
薄膜變溫電阻測試儀TRT-3
- 分類： 測試案例
- 作者：超級(jí)管理員
- 來源：本站
- 發(fā)布時(shí)間：2022-12-14
- 訪問量： 2528
【概要描述】大連理工大學(xué)使用嘉儀通薄膜變溫電阻測試儀TRT-3測試CuNiFe樣品電阻率隨溫度變化結(jié)果 ···
薄膜變溫電阻測試儀TRT-3
【概要描述】大連理工大學(xué)使用嘉儀通薄膜變溫電阻測試儀TRT-3測試CuNiFe樣品電阻率隨溫度變化結(jié)果 ···
- 分類： 測試案例
- 作者：超級(jí)管理員
- 來源：本站
- 發(fā)布時(shí)間：2022-12-14
- 訪問量： 2528
詳情
大連理工大學(xué)使用嘉儀通薄膜變溫電阻測試儀TRT-3測試CuNiFe樣品電阻率隨溫度變化結(jié)果
關(guān)鍵詞：
掃二維碼用手機(jī)看
上一個(gè)
:
霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)HET-3
下一個(gè)
:
4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)驗(yàn)曲線圖
上一個(gè)
:
霍爾效應(yīng)測試系統(tǒng)HET-3
下一個(gè)
:
4吋快速退火爐RTP-3S04升溫實(shí)驗(yàn)曲線圖
在線留言
WRITE A MESSAGE TO US
客戶留言
描述：
熱門資訊
-
- PTM-3在柔性氧化物熱電材料Seebeck系數(shù)測試中的應(yīng)用 2025-08-27 16:12:45
- 冷熱臺(tái)聯(lián)用橢偏儀在薄膜材料光學(xué)特性中的應(yīng)用 2025-08-22 09:54:05
- 微納尺度下的精密電學(xué)測試：探針臺(tái)與半導(dǎo)體參數(shù)儀在MEMS器件表征中的應(yīng)用 2025-08-06 16:35:00
- 冷熱臺(tái)在變溫光致發(fā)光光譜（PL譜）研究中的應(yīng)用 2025-07-31 15:44:49
- 碳化硅材料+霍爾效應(yīng)測試的組合，正推動(dòng)SiC器件邁向高效可靠的未來 2025-07-23 14:47:41
- 晶圓快速熱退火（RTA）工藝總結(jié)分享 2025-07-17 14:08:31
我們的產(chǎn)品
公司多年來秉持互惠共贏的原則與全國各地客戶開展貿(mào)易合作往來
