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薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3)
薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统(Namicro-3)
热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号：ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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薄膜热电参数测试系统(MRS-3RT)
薄膜热电参数测试系统(MRS-3RT)
薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
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便携式热电参数测试仪(PTM-5)
便携式热电参数测试仪(PTM-5)
便携式热电参数测试仪PTM-5可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的Seebeck系数和电导率，为热电材料的科学研究及产业效率的提升提供更专业、便携的新选择。
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便携式热电参数测试仪(PTM-3)
便携式热电参数测试仪(PTM-3)
便携式泽贝克系数测试仪 PTM-3 是一款测试热电材料Seebeck系数（常温）的专业仪器。该仪器可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的Seebeck系数，为热电材料的科学研究及产业效率的提升提供更专业、便携的新选择。
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