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薄膜热导率测试系统(TCT-3)
薄膜热导率测试系统(TCT-3)
薄膜热导率测试系统TCT-3采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率随温度变化的趋势，为广大科研工作者提供稳定可靠的实验依据。可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、热阻材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。
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薄膜热导率测试系统(TCT-3RT)
薄膜热导率测试系统(TCT-3RT)
薄膜热导率测试系统TCT-3RT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。可验证薄膜材料在室温条件下的热导率性能差异。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量，可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。
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热膨胀系数分析仪(TEA-3)
热膨胀系数分析仪(TEA-3)
热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术（专利号：ZL201410421128.5），可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
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相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪(PCA-3)
相变温度分析仪采用具有专利技术的光学系统检测原理，PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。
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光功率热分析仪(OPA-3)
光功率热分析仪(OPA-3)
光功率热分析仪是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪，填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白！不仅可用于检测块体，还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性检测材料的相变温度，依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数，融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。
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